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Ebert, Martin:

Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy - neues Buch

2001, ISBN: 3896853686

Kartoniert / Broschiert Elektronik / Halbleiter, Halbleiter, Leitung (physikalisch) / Halbleiter, mit Schutzumschlag neu, [PU:Wissenschaft + Technik Ve; Wissenschaft & Technik Verlag, In… Mehr…

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Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth By Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy - Taschenbuch

2001, ISBN: 9783896853684

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Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy Martin Ebert Taschenbuch Englisch 2001 - Taschenbuch

2001

ISBN: 9783896853684

[ED: Taschenbuch], [PU: Wissenschaft + Technik Ve], DE, [SC: 0.00], Neuware, gewerbliches Angebot, 112, [GW: 156g], Sofortüberweisung, PayPal, Banküberweisung

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Martin Ebert:
Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy (Paperback) - Taschenbuch

2001, ISBN: 3896853686

[EAN: 9783896853684], Neubuch, [PU: Wissenschaft + Technik Ve, N/A], Language: English. Brand new Book.

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Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy - Taschenbuch

ISBN: 3896853686

[EAN: 9783896853684], Neubuch, [PU: Wissenschaft + Technik Ve]

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Details zum Buch

Detailangaben zum Buch - Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy


EAN (ISBN-13): 9783896853684
ISBN (ISBN-10): 3896853686
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2001
Herausgeber: Wissenschaft & Technik

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ISBN/EAN: 3896853686

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-89685-368-6, 978-3-89685-368-4
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Titel des Buches: ellipsometry


Daten vom Verlag:

Autor/in: Martin Ebert
Titel: Closed-Loop Control of III-V Semiconductor Growth by Combined Spectroscopic Ellipsometry and Reflectgance-Difference Spectroscopy
Verlag: Wissenschaft & Technik
112 Seiten
Gewicht: 0,140 kg
Sprache: Englisch
34,00 € (DE)
35,00 € (AT)
55,00 CHF (CH)
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