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Noncontact Atomic Force Microscopy - S. Morita
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2002, ISBN: 3540431179

[EAN: 9783540431176], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin Heidelberg], ELEKTRONENMIKROSKOPIE - RASTER-TUNNEL-MIKROSKOPIE; MEASUREMENT; OXIDES; SEMICONDUCTOR; SEMICONDUCTORS; SPECTROS… Mehr…

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2002, ISBN: 9783540431176

Erscheinungsdatum: 24.07.2002, Medium: Buch, Einband: Gebunden, Titel: Noncontact Atomic Force Microscopy, Auflage: 2002, Redaktion: Meyer, E. // Morita, S. // Wiesendanger, Roland, Verla… Mehr…

Nr. 71111720. Versandkosten:, Next Day, DE. (EUR 0.00)
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Morita, S. (Herausgeber); Meyer, E. (Herausgeber); Wiesendanger, Roland (Herausgeber):
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2002

ISBN: 3540431179

2002 Gebundene Ausgabe Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie, Wissenschaftliche Standards, Normung usw., Nanotechnologie, Materialwissenschaft, AFM; Bias; Helium-Atom-Streuu… Mehr…

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Morita, Seizo Wiesendanger, Roland Meyer, Ernst:
Noncontact Atomic Force Microscopy - Erstausgabe

2002, ISBN: 9783540431176

Gebundene Ausgabe

[ED: Gebunden], [PU: Springer Berlin Heidelberg], Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book is a top state-of-the-art repo… Mehr…

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2002, ISBN: 9783540431176

Buch, Hardcover, 2002, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2002

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Noncontact Atomic Force Microscopy
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783540431176


Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

Detailangaben zum Buch - Noncontact Atomic Force Microscopy


EAN (ISBN-13): 9783540431176
ISBN (ISBN-10): 3540431179
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 2002
Herausgeber: Springer Berlin
439 Seiten
Gewicht: 0,931 kg
Sprache: ger/Deutsch

Buch in der Datenbank seit 2007-05-06T20:37:58+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-05-24T13:01:03+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9783540431176

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-43117-9, 978-3-540-43117-6
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: meyer ernst, wiesen, wiesend, ernst hello, roland wiesendanger

Daten vom Verlag:

Autor/in: S. Morita
Titel: NanoScience and Technology; Noncontact Atomic Force Microscopy
Verlag: Springer; Springer Berlin
440 Seiten
Erscheinungsjahr: 2002-07-24
Berlin; Heidelberg; DE
Sprache: Englisch
219,99 € (DE)

BB; Hardcover, Softcover / Technik/Maschinenbau, Fertigungstechnik; Nanotechnologie; Verstehen; AFM; Bias; Helium-Atom-Streuung; Noncontact atomic; True atomic resolution; deformation; experiment; measurement; microscopy; oxides; semiconductor; semiconductors; spectroscopy; surface; temperature; Nanotechnology; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Measurement Science and Instrumentation; Characterization and Analytical Technique; Materialwissenschaft; Wissenschaftliche Standards, Normung usw. Werkstoffprüfung; BC

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
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