ISBN: 9783642264788
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Taschenbuch
2012, ISBN: 3642264786
[SR: 10551651], Paperback, [EAN: 9783642264788], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], 2012-11-06, Springer, This is the first book on lock-in thermography, an analytical method appli… Mehr…
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, Band 10) - Taschenbuch
2012, ISBN: 3642264786
[SR: 1802139], Taschenbuch, [EAN: 9783642264788], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], 2012-11-06, Springer, 15095836031, Bauwesen, 290520, Ingenieurwissenschaften, 288100, Fachbüche… Mehr…
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, Band 10) - Taschenbuch
2012, ISBN: 9783642264788
Mitwirkende: Warta, Wilhelm, Mitwirkende: Langenkamp, Martin, Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2010, 268 Seiten, Publiziert: 2012-11-06T00:00:01Z, Pr… Mehr…
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Mitwirkende: Warta, Wilhelm, Mitwirkende: Langenkamp, Martin, Springer, Taschenbuch, Auflage: Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2010, 268 Seiten, Publiziert: 2012-11-06T00:00:01Z, Pr… Mehr…
Bibliographische Daten des bestpassenden Buches
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Detailangaben zum Buch - Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, Band 10)
EAN (ISBN-13): 9783642264788
ISBN (ISBN-10): 3642264786
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2012
Herausgeber: Springer
Buch in der Datenbank seit 2013-02-08T09:46:00+01:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-09-20T20:40:47+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9783642264788
ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-26478-6, 978-3-642-26478-8
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: langenkamp, may wilhelm, langen, lang martin, breitenstein, martin lange, breit
Titel des Buches: lock, breitenstein, electronic devices
Daten vom Verlag:
Autor/in: Otwin Breitenstein; Wilhelm Warta; Martin Langenkamp
Titel: Springer Series in Advanced Microelectronics; Lock-in Thermography - Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Verlag: Springer; Springer Berlin
258 Seiten
Erscheinungsjahr: 2012-11-06
Berlin; Heidelberg; DE
Gedruckt / Hergestellt in Deutschland.
Gewicht: 0,415 kg
Sprache: Englisch
149,98 € (DE)
154,19 € (AT)
165,50 CHF (CH)
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BC; Previously published in hardcover; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Optische Physik; Verstehen; Elektrotechnik, Elektronik; diagnosis; Shunt imaging; Lifetime mapping; Failure analysis; Trap density mapping; Solar cell characterization; thermography; B; Optics, Lasers, Photonics, Optical Devices; Engineering; Characterization and Evaluation of Materials; Engineering, general; Structural Materials; Angewandte Optik; Werkstoffprüfung; Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein; Materialwissenschaft; Konstruktiver Ingenieurbau, Baustatik; BB; BB
Physical and Technical Basics.- Experimental Technique.- Theory.- Measurement Strategies.- Typical Applications.- Summary and Outlook.Only book in the market on this highly sensitive infrared measurement method Explains the basics and applications of this analytical technique A reference work for researchers and engineers alike
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