ISBN: 9783540856146
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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches
Autor: | |
Titel: | |
ISBN-Nummer: |
Detailangaben zum Buch - Extended Defects in Germanium
EAN (ISBN-13): 9783540856146
ISBN (ISBN-10): 3540856145
Erscheinungsjahr: 2008
Herausgeber: Springer Berlin
297 Seiten
Sprache: eng/Englisch
Buch in der Datenbank seit 2011-01-28T22:26:13+01:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-04-10T22:42:15+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 3540856145
ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-85614-5, 978-3-540-85614-6
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: claeys, eddy, simoen, springer
Titel des Buches: extended defects germanium
Daten vom Verlag:
Autor/in: Cor Claeys; Eddy Simoen
Titel: Springer Series in Materials Science; Extended Defects in Germanium - Fundamental and Technological Aspects
Verlag: Springer; Springer Berlin
300 Seiten
Erscheinungsjahr: 2008-12-29
Berlin; Heidelberg; DE
Sprache: Englisch
149,79 € (DE)
154,00 € (AT)
177,00 CHF (CH)
Available
XX, 300 p.
EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Technik/Maschinenbau, Fertigungstechnik; Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien; Verstehen; Extended defects; Germanium; Processing; Semiconductor devices; crystal; crystallography; physics; B; Optical Materials; Condensed Matter Physics; Technology and Engineering; Chemistry and Materials Science; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein; BC
Dislocations in Germanium: Mechanical Properties.- Electrical and Optical Properties.- Grain Boundaries in Germanium.- Germanium-Based Substrate Defects.- Process-Induced Defects in Germanium.Deals with all aspects of defects in Ge, an element which is gaining importance again in semiconductor technology Discusses all kinds of expanded defects in Ge, such as dislocation, stacking faults, twins, grain boundaries and bubbles on a crystallographic basis Systematically presentation of defects creation and its influence on device properties Appeals mainly to researchers and engineers but is also suitable for graduate students working in this field Includes supplementary material: sn.pub/extras
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