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Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik. VDI-Berichte 1669
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Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik. VDI-Berichte 1669 - Taschenbuch

2003, ISBN: 9783180916699

[ED: Paperback], [PU: VDI], Innentitel: Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik Tagung Stuttgart, 12. und 13. Februar 2003, DE, [SC: 4.10], leichte Gebrauchsspuren, gewerbliches Angebot,… Mehr…

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2003, ISBN: 9783180916699

[ED: Paperback], [PU: VDI], Innentitel: Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik Tagung Stuttgart, 12. und 13. Februar 2003, DE, [SC: 2.30], leichte Gebrauchsspuren, gewerbliches Angebot,… Mehr…

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2003

ISBN: 9783180916699

[ED: Paperback], [PU: VDI], Innentitel: Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik Tagung Stuttgart, 12. und 13. Februar 2003, DE, [SC: 2.20], leichte Gebrauchsspuren, gewerbliches Angebot,… Mehr…

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2003, ISBN: 9783180916699

[ED: Paperback], [PU: VDI], Innentitel: Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik Tagung Stuttgart, 12. und 13. Februar 2003, DE, [SC: 1.50], leichte Gebrauchsspuren, gewerbliches Angebot,… Mehr…

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2003, ISBN: 9783180916699

[ED: Paperback], [PU: VDI], Innentitel: Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik Tagung Stuttgart, 12. und 13. Februar 2003, DE, [SC: 3.70], leichte Gebrauchsspuren, gewerbliches Angebot,… Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

3180916699

Detailangaben zum Buch - Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik. Tagung Stuttgart, Februar 2003


EAN (ISBN-13): 9783180916699
ISBN (ISBN-10): 3180916699
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2003
Herausgeber: VDI

Buch in der Datenbank seit 2008-05-18T09:14:53+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2022-10-10T11:45:56+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 3180916699

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-18-091669-9, 978-3-18-091669-9
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: verein deutscher ingenieure, vde
Titel des Buches: vdi berichte, metrologie der mikro und nanotechnik tagung stuttgart februar 2003, bilder des neuen testaments

Daten vom Verlag:

Titel: VDI-Berichte; Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik - Tagung Stuttgart, Februar 2003
Verlag: VDI
211 Seiten
Erscheinungsjahr: 2003-02-03
Sprache: Deutsch
58,00 € (DE)
59,70 € (AT)
Not available (reason unspecified)
160 Abb., 9 Tab.

BC; ENGLBR

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