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John N. DiNardo:

Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces - gebrauchtes Buch

ISBN: 3527292470

Derived from the highly acclaimed series Materials Science and Technology, this book provides in-depth coverage of STM, AFM, and related non-contact nanoscale probes along with detailed a… Mehr…

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DiNardo, N. John:

Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces - neues Buch

ISBN: 9783527292479

Derived from the highly acclaimed series Materials Science and Technology, this book provides in-depth coverage of STM, AFM, and related non-contact nanoscale probes along with detailed a… Mehr…

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DiNardo, N. John:
Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces - gebunden oder broschiert

1994

ISBN: 9783527292479

Wiley VCH, Hardcover, 173 Seiten, Publiziert: 1994-06-21T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 1.11 kg, Books Global Store, Special Features, Books, Mechanics, Civil Engineering, Engineering & … Mehr…

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DiNardo, N. John:
Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces - gebunden oder broschiert

1994, ISBN: 3527292470

[EAN: 9783527292479], Gebraucht, sehr guter Zustand, [PU: Wiley-VCH 1994-06-21], Item is in very good condition. If supplemental codes/CDs for textbooks are required please contact us pri… Mehr…

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John N Dinardo:
Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces. - gebunden oder broschiert

1994, ISBN: 3527292470

[EAN: 9783527292479], [SC: 0.0], [PU: Wiley-VCH Weinheim NY Basel Cambridge Tokyo], ohne Schutzumschlag kleinere Gebrauchsspuren am Einband Block sauber und fest ohne Einträge ehemaliges … Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

3527292470

Detailangaben zum Buch - Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces


EAN (ISBN-13): 9783527292479
ISBN (ISBN-10): 3527292470
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 1994
Herausgeber: Wiley VCH

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ISBN/EAN: 3527292470

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-527-29247-0, 978-3-527-29247-9
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Titel des Buches: afm, surfaces

Daten vom Verlag:

Autor/in: John N Dinardo
Titel: Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces
Verlag: Wiley-VCH
163 Seiten
Gewicht: 0,632 kg
Sprache: Deutsch
99,00 € (DE)
146,00 CHF (CH)
Not available (reason unspecified)
150 Abb., 2 Tab.

BB; GB; Verstehen; Halbleiter; Oberfläche

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