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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
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Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp:

Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Taschenbuch

ISBN: 3642077854

Paperback, [EAN: 9783642077852], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 922354, Mechanics, 278122, Civil Engineering, 278115, Engineering & Technology, 57, Science & Nature, … Mehr…

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Paperback, [EAN: 9783642077852], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 922354, Mechanics, 278122, Civil Engineering, 278115, Engineering & Technology, 57, Science & Nature, … Mehr…

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ISBN: 3642077854

[SR: 3276942], Paperback, [EAN: 9783642077852], Springer, English, English, English, Springer, Book, Springer, Springer, This is the first book on lock-in thermography, an analytical meth… Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

3642077854

Detailangaben zum Buch - Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)


ISBN (ISBN-10): 3642077854 (ISBN-13: 9783642077852)
Taschenbuch

Buch in der Datenbank seit 2010-06-08T10:36:43+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2014-08-01T09:03:17+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 3642077854

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-07785-4
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: martin wilhelm
Titel des Buches: thermography

Daten vom Verlag:

Autor/in: Otwin Breitenstein; Wilhelm Warta; Martin Langenkamp
Titel: Springer Series in Advanced Microelectronics; Lock-in Thermography - Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Verlag: Springer Berlin
193 Seiten
Erscheinungsjahr: 2011-03-06
Sprache: Englisch
128,35 € (DE)
132,00 € (AT)
186,50 CHF (CH)
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BC; PB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik, Nachrichtentechnik; Failure analysis; Solar cell characterization; Trap density mapping; Shunt imaging; Lifetime mapping; Research

Introduction.- Physical and Technical Basics.- Experimental Technique.- Theory.- Measurement Strategies.- Typical Applications.- Summary and Outlook.- References.- Appendices.- Index.
This is the first book on lock-in thermography, an analytical method applied to the diagnosis of microelectronic devices. It provides the necessary knowledge on the scientific basics and application of this method. It appeals to electrical engineers, researchers and advanced students.
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