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Yao, Nan:

Focused Ion Beam Systems Yao, Nan Buch - gebunden oder broschiert

ISBN: 9780521158596

Knicke und Markierungen sowie persönliche Notizen sind nicht vorhanden. Mathematik & Technik. Du bist Student in und suchst verzweifelt nach guter Fachliteratur?. Sprache: Englisch. von Y… Mehr…

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Nan Yao:

Focused Ion Beam Systems - Taschenbuch

2011, ISBN: 9780521158596

Basics and Applications, Buch, Softcover, The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining … Mehr…

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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications - Taschenbuch

2011

ISBN: 9780521158596

Cambridge University Press, Taschenbuch, Auflage: Reissue, 408 Seiten, Publiziert: 2011-04-14T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: black & white illustrations, 0.65 kg, Verkauf… Mehr…

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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications - Taschenbuch

2011, ISBN: 9780521158596

Cambridge University Press, Taschenbuch, Auflage: Reissue, 408 Seiten, Publiziert: 2011-04-14T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: black & white illustrations, 1.43 kg, Verkauf… Mehr…

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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications - Taschenbuch

2011, ISBN: 9780521158596

Cambridge University Press, Taschenbuch, Auflage: Reissue, 408 Seiten, Publiziert: 2011-04-14T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: black & white illustrations, 0.65 kg, Verkauf… Mehr…

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Details zum Buch
Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications

This edited volume comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology.

Detailangaben zum Buch - Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications


EAN (ISBN-13): 9780521158596
ISBN (ISBN-10): 0521158591
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2011
Herausgeber: Yao, Nan, Cambridge University Press
408 Seiten
Gewicht: 0,647 kg
Sprache: eng/Englisch

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ISBN/EAN: 9780521158596

ISBN - alternative Schreibweisen:
0-521-15859-1, 978-0-521-15859-6
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: yao, nan university
Titel des Buches: beam systems, focused seven, ion, basics


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