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Noncontact Atomic Force Microscopy 03 - Herausgegeben von Morita, Seizo Giessibl, Franz J. Meyer, Ernst Wiesendanger, Roland
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Herausgegeben von Morita, Seizo Giessibl, Franz J. Meyer, Ernst Wiesendanger, Roland:
Noncontact Atomic Force Microscopy 03 - gebunden oder broschiert

2015, ISBN: 9783319155876

[ED: Hardcover], [PU: Springer, Berlin Springer International Publishing], This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic resolution after the publication of volume 2: (1) Pauli repulsive force imaging of molecular structure, (2) Applications of force spectroscopy and force mapping with atomic resolution, (3) Applications of tuning forks, (4) Applications of atomic/molecular manipulation, (5) Applications of magnetic exchange force microscopy, (6) Applications of atomic and molecular imaging in liquids, (7) Applications of combined AFM/STM with atomic resolution, and (8) New technologies in dynamic force microscopy. These results and technologies are now expanding the capacity of the NC-AFM with imaging functions on an atomic scale toward making them characterization and manipulation tools of individual atoms/molecules and nanostructures, with outstanding capability at the level of molecular, atomic, and subatomic resolution. Since the publication of vol. 2 of the book Noncontact Atomic Force Microscopy in 2009 the noncontact atomic force microscope, which can image even insulators with atomic resolution, has achieved remarkable progress. The NC-AFM is now becoming crucial for nanoscience and nanotechnology. 2015. 2015. xxii, 527 S. 97 SW-Abb., 159 Farbabb. 235 mm Sofort lieferbar, DE, Neuware, gewerbliches Angebot, offene Rechnung (Vorkasse vorbehalten)

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Noncontact Atomic Force Microscopy | Morita / Giessibl / Meyer - Buch - 2015 - Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger - Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger
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Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger:
Noncontact Atomic Force Microscopy | Morita / Giessibl / Meyer - Buch - 2015 - Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger - neues Buch

2015, ISBN: 9783319155876

ID: 14752499

Von Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger: This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic resolution after the publication of volume 2: (1) Pauli repulsive force imaging of molecular structure, (2) Applications of force spectroscopy and force mapping with atomic resolution, (3) Applications of tuning forks, (4) Applications of atomic/molecular manipulation, (5) Applications of magnetic exchange force microscopy, (6) Applications of atomic and molecular imaging in liquids, (7) Applications of combined AFM/STM with atomic resolution, and (8) New technologies in dynamic force microscopy. These results and technologies are now expanding the capacity of the NC-AFM with imaging functions on an atomic scale toward making them characterization and manipulation tools of individual atoms/molecules and nanostructures, with outstan...; Weitere Fachgebiete > Physik, Astronomie > Elektrodynakmik, Optik > Mikroskopie, Spektroskopie, Springer

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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology) - Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger
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Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger:
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology) - gebunden oder broschiert

ISBN: 3319155873

[SR: 860594], Gebundene Ausgabe, [EAN: 9783319155876], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 60556011, Materialwissenschaft, 60448011, Ingenieurwesen & Technik, 60447011, Architektur, Technik & Ingenieurswesen, 54071011, Genres, 52044011, Fremdsprachige Bücher, 56391011, Nanostrukturen, 56375011, Physik, 56047011, Wissenschaft, 54071011, Genres, 52044011, Fremdsprachige Bücher, 1320310031, Statik, 56375011, Physik, 56047011, Wissenschaft, 54071011, Genres, 52044011, Fremdsprachige Bücher, 56444011, Nanotechnologie, 56441011, Technologie, 56047011, Wissenschaft, 54071011, Genres, 52044011, Fremdsprachige Bücher

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Noncontact Atomic Force Microscopy - neues Buch

ISBN: 9783319155876

ID: 9783319155876

Physics; Nanoscale Science and Technology; Surfaces and Interfaces, Thin Films; Spectroscopy and Microscopy; Nanotechnology Atom Manipulation, Atomic Force Microscopy, Atomic Resolution, Atomic/Molecular Manipulation, Chemical Structure, Force Mapping with Atomic Resolution, Liquid AFM, Magnetic Exchange Force Microscopy, Scanning Probe Techniques, Scanning Tunneling Microscopy Books Book, Springer Science+Business Media

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2015, ISBN: 9783319155876

ID: 31518954

Volume 3, 2015, Hardcover, Buch, [PU: Springer International Publishing]

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Details zum Buch
Noncontact Atomic Force Microscopy 03
Autor:

Seizo Morita

Titel:

Noncontact Atomic Force Microscopy 03

ISBN-Nummer:

This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic resolution after the publication of volume 2: (1) Pauli repulsive force imaging of molecular structure, (2) Applications of force spectroscopy and force mapping with atomic resolution, (3) Applications of tuning forks, (4) Applications of atomic/molecular manipulation, (5) Applications of magnetic exchange force microscopy, (6) Applications of atomic and molecular imaging in liquids, (7) Applications of combined AFM/STM with atomic resolution, and (8) New technologies in dynamic force microscopy. These results and technologies are now expanding the capacity of the NC-AFM with imaging functions on an atomic scale toward making them characterization and manipulation tools of individual atoms/molecules and nanostructures, with outstanding capability at the level of molecular, atomic, and subatomic resolution. Since the publication of vol. 2 of the book Noncontact Atomic Force Microscopy in 2009 the noncontact atomic force microscope, which can image even insulators with atomic resolution, has achieved remarkable progress. The NC-AFM is now becoming crucial for nanoscience and nanotechnology.

Detailangaben zum Buch - Noncontact Atomic Force Microscopy 03


EAN (ISBN-13): 9783319155876
ISBN (ISBN-10): 3319155873
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 2009
Herausgeber: Springer-Verlag Gmbh

Buch in der Datenbank seit 07.08.2015 14:52:55
Buch zuletzt gefunden am 01.07.2017 15:35:55
ISBN/EAN: 9783319155876

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-319-15587-3, 978-3-319-15587-6


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