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Editor-Uwe Rau; Editor-Daniel Abou-Ras; Editor-Thomas Kirchartz:

Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells - Taschenbuch

2018, ISBN: 9783527410033

Gebundene Ausgabe

Ellert & Richter, 2005. paperback. gebraucht, sehr gut leichte Gebrauchsspuren. 28,60 x 21,41 x 2,01., Ellert & Richter, 2005, Wiley-VCH, 2011. *Price HAS BEEN reduced by 10% until… Mehr…

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Abou-Ras, Daniel Kirchartz, Thomas Rau, Uwe:

Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells - gebunden oder broschiert

2011, ISBN: 9783527410033

[ED: Hardcover], [PU: Wiley-VCH], Einband mit leichten Lagerspuren und leicht angestoßenen Ecken, innen im tadellosen Zustand. Versand als Postbrief, DHL-Päckchen oder Hermes-Paket in si… Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783527410033


Written by scientists from leading institutes in Germany, USA and Spain who use these techniques as the core of their scientific work and who have a precise idea of what is relevant for photovoltaic devices, this text contains concise and comprehensive lecture-like chapters on specific research methods. They focus on emerging, specialized techniques that are new to the field of photovoltaics yet have a proven relevance. However, since new methods need to be judged according to their implications for photovoltaic devices, a clear introductory chapter describes the basic physics of thin-film solar cells and modules, providing a guide to the specific advantages that are offered by each individual method. The choice of subjects is a representative cross-section of those methods enjoying a high degree of visibility in recent scientific literature. Furthermore, they deal with specific device-related topics and include a selection of material and surface/interface analysis methods that have recently proven their relevance. Finally, simulation techniques are presented that are used for ab-initio calculations of relevant semiconductors and for device simulations in 1D and 2D. For students in physics, solid state physicists, materials scientists, PhD students in material sciences, materials institutes, semiconductor physicists, and those working in the semiconductor industry, as well as being suitable as supplementary reading in related courses.

Detailangaben zum Buch - Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells


EAN (ISBN-13): 9783527410033
ISBN (ISBN-10): 3527410031
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2011
Herausgeber: Wiley VCH Verlag GmbH
547 Seiten
Gewicht: 1,230 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2009-07-01T10:38:35+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-01-17T12:03:24+01:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9783527410033

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-527-41003-1, 978-3-527-41003-3
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: rau thomas, thomas daniel, räß, ras, uwe rau
Titel des Buches: solar, advanced, techniques film

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