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Rudolf Reichelt, Ludwig Reimer, Rudolf Reichelt:

Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - gebunden oder broschiert

ISBN: 3540853170

Hardcover, [EAN: 9783540853176], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 952220, Electromagnetism, 952214, Physics, 952050, Professional Science, 950756, Professional & Techni… Mehr…

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Rudolf Reichelt, Ludwig Reimer, Rudolf Reichelt:

Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - gebunden oder broschiert

ISBN: 3540853170

[SR: 3389048], Gebundene Ausgabe, [EAN: 9783540853176], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 60518011, Prinzip der Elektrizität, 60516011, Elektrotechnik, 60448011, Ingenie… Mehr…

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Rudolf Reichelt#Ludwig Reimer:
Scanning Electron Microscopy - neues Buch

ISBN: 9783540853176

Physics of Image Formation and Microanalysis Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The diff… Mehr…

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Reichelt, Rudolf; Reimer, Ludwig; Reichelt, Rudolf [Editor]:
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - gebunden oder broschiert

2010, ISBN: 9783540853176

Springer, 2010-11-29. Hardcover. Used:Good., Springer, 2010-11-29

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Ludwig Reimer, Rudolf Reichelt, Rudolf Reichelt (Editor):
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - gebunden oder broschiert

2010, ISBN: 9783540853176

Springer, 2010-11-29. 3rd ed. Hardcover. Good., Springer, 2010-11-29

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783540853176


Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Detailangaben zum Buch - Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis


EAN (ISBN-13): 9783540853176
ISBN (ISBN-10): 3540853170
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 2011
Herausgeber: Springer

Buch in der Datenbank seit 2009-02-19T10:30:29+01:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2020-11-05T07:13:07+01:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9783540853176

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-85317-0, 978-3-540-85317-6
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: reichelt, ludwig reimer
Titel des Buches: image formation and, microanalysis microscopy

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