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Hannu Nurmi:
Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - neues BuchISBN: 9783642024177
Lock-in Thermography focuses on this sensitive infrared measurement system that offers a more effective analytical capability.Though mainly covering applications in electronic materials a… Mehr…
2010
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2010, ISBN: 9783642024177
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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches
Autor: | |
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ISBN-Nummer: |
Detailangaben zum Buch - Lock-in Thermography
EAN (ISBN-13): 9783642024177
ISBN (ISBN-10): 3642024173
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer Berlin
255 Seiten
Sprache: eng/Englisch
Buch in der Datenbank seit 2011-10-02T05:35:27+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-03-07T17:56:52+01:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9783642024177
ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-02417-3, 978-3-642-02417-7
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: martin wilhelm, langenkamp, lang martin, breitenstein, martin lange, hannu nurmi
Titel des Buches: springer, electronic devices, the lock
Daten vom Verlag:
Autor/in: Otwin Breitenstein; Wilhelm Warta; Martin Langenkamp
Titel: Springer Series in Advanced Microelectronics; Lock-in Thermography - Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Verlag: Springer; Springer Berlin
258 Seiten
Erscheinungsjahr: 2010-09-05
Berlin; Heidelberg; DE
Gedruckt / Hergestellt in Deutschland.
Sprache: Englisch
96,29 € (DE)
99,00 € (AT)
118,00 CHF (CH)
Available
X, 258 p. 89 illus., 33 illus. in color.
EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Physik, Astronomie/Elektrizität, Magnetismus, Optik; Laserphysik; Verstehen; Failure analysis; Lifetime mapping; Shunt imaging; Solar cell characterization; Trap density mapping; diagnosis; thermography; B; Optics, Lasers, Photonics, Optical Devices; Characterization and Evaluation of Materials; Engineering, general; Structural Materials; Laser; Characterization and Analytical Technique; Technology and Engineering; Structural Materials; Engineering; Werkstoffprüfung; Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein; Materialwissenschaft; BB
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