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Über das Werk

Theory of Defects in Semiconductors (ISBN: 9783642070037) ist ein wegweisendes Werk, das die theoretischen Grundlagen und praktischen Anwendungen von Defekten in Halbleitern systematisch beleuchtet. Es füllt eine zentrale Lücke in der Transitionsphase von Grundlagenforschung und Technologiefortschritt, indem es Konzepte wie Fehlstellen, Versetzungen und deren Auswirkungen auf elektronische Eigenschaften detailliert analysiert. Das Buch bietet eine klare Brücke zwischen mikrostruktureller Beschaffenheit und makroskopischer Funktionalität, wodurch es als Referenztext für Wissenschaftler, Studierende und Entwickler gleichermaßen dient. Der Band trägt zur historischen Entwicklung des Fachgebiets bei, indem er methodische Ansätze, historische Meilensteine und aktuelle Herausforderungen zusammenführt.

Zusammenfassung

Der Band nimmt den Leser mit auf eine vertiefende Reise durch die Theorie von Defekten in Halbleitern und deckt sowohl fundamentale Konzepte als auch fortgeschrittene Modellierungs- und Berechnungsmethoden ab. Themen reichen von der Elektronendynamik in Präsenz von Punktdefekten bis hin zu komplexen Versetzungsstrukturen, deren Einfluss auf Ladungsträger Mobilität, Rekombination und optische Eigenschaften reicht. Durch sorgfältig aufbereitete Modelle, analytische Herleitungen und praxisnahe Beispiele ermöglicht das Werk ein Verständnis der Wechselwirkungen zwischen Defekten, Bandstrukturen und äußeren Störeinflüssen. Es verbindet klassische Theorien mit modernen Ansätzen aus Dichtefunktionaltheorie, many-body-Methoden und Simulationstechniken, um ein robustes Framework für Forschung und Anwendung zu liefern. Leser erhalten Einblicke in Defekt-Niveau-Struktur, Störerwirkungen bei Temperaturänderungen und die Rolle von Defekten bei relevanten Prozessen wie Dotierung, Rekombination und Relaxation, jeweils mit Blick auf aktuelle Probleme in der Halbleitertechnik.

Über die Autoren

Herausgeber sind Estreicher, Stefan und Drabold, David A. Als führende Köpfe der Defektforschung im Halbleiterbereich bündeln sie in diesem Werk konzentriertes Fachwissen und eine breite Perspektive. Die Zusammenarbeit der Herausgeber reflektiert eine Kombination aus theoretischer Fundierung, mathematischer Präzision und praktischer Relevanz, wodurch der Band sowohl für Studierende als auch für erfahrene Forscher eine verlässliche Orientierung bietet. Ihre kollektive Expertise unterstreicht die Bedeutung des Themas in der Entwicklung moderner Elektronik.

Kurz gefasst

Theory of Defects in Semiconductors bietet eine fundierte, umfassende Auseinandersetzung mit Defekten in Halbleitern, verknüpft theoretische Modelle mit praxisnahen Anwendungen und liefert eine unverzichtbare Referenz für Wissenschaft und Technik. Das Werk vereint historische Einordnung, aktuelle Forschungsfelder und zukunftsweisende Fragestellungen in einer klar strukturierten, akademisch anspruchsvollen Darstellung.

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Estreicher, Stefan:

Theory of Defects in Semiconductors / Stefan Estreicher (u. a.) / Taschenbuch / xiv / Englisch / 2010 / Springer Vieweg / EAN 9783642070037 - Erstausgabe

2010, ISBN: 9783642070037

Taschenbuch, Gebundene Ausgabe

gewerbliches Angebot, [SC: 0.00], Neuware, [PU: Springer Vieweg], 312, [GW: 476g], [ED: Taschenbuch], Softcover reprint of hardcover 1st edition 2007, DE, Semiconductor science and techno… Mehr…

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Theory of Defects in Semiconductors - Taschenbuch

2022, ISBN: 9783642070037

gewerbliches Angebot, [SC: 0.00], Neuware, [PU: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg], 235x155x17 mm, 312, [GW: 476g], [ED: Taschenbuch], DE, Neuware - Semiconductor sci… Mehr…

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Theory of Defects in Semiconductors - Taschenbuch

2010

ISBN: 3642070035

[EAN: 9783642070037], Neubuch, [SC: 17.8], [PU: Springer Berlin Heidelberg], CONDENSED MATTER THEORY; DEFECT ENERGIE; POTENTIAL; MATTER; DYNAMICS; HISTORY; MODELING; QUANTUM DOT; SCIENCE;… Mehr…

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[EAN: 9783642070037], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin Heidelberg], CONDENSED MATTER THEORY; DEFECT ENERGIE; POTENTIAL; MATTER; DYNAMICS; HISTORY; MODELING; QUANTUM DOT; SCIENCE; … Mehr…

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2010, ISBN: 3642070035

[EAN: 9783642070037], Neubuch, [PU: Springer Berlin Heidelberg Nov 2010], CONDENSEDMATTERTHEORY; DEFECTTHEORY; ENERGIE; POTENTIAL; CONDENSEDMATTER; DYNAMICS; HISTORY; MODELING; QUANTUMDOT… Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Theory of Defects in Semiconductors (Topics in Applied Physics, Band 104)
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783642070037

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Über das Werk

Theory of Defects in Semiconductors (ISBN: 9783642070037) ist ein wegweisendes Werk, das die theoretischen Grundlagen und praktischen Anwendungen von Defekten in Halbleitern systematisch beleuchtet. Es füllt eine zentrale Lücke in der Transitionsphase von Grundlagenforschung und Technologiefortschritt, indem es Konzepte wie Fehlstellen, Versetzungen und deren Auswirkungen auf elektronische Eigenschaften detailliert analysiert. Das Buch bietet eine klare Brücke zwischen mikrostruktureller Beschaffenheit und makroskopischer Funktionalität, wodurch es als Referenztext für Wissenschaftler, Studierende und Entwickler gleichermaßen dient. Der Band trägt zur historischen Entwicklung des Fachgebiets bei, indem er methodische Ansätze, historische Meilensteine und aktuelle Herausforderungen zusammenführt.

Zusammenfassung

Der Band nimmt den Leser mit auf eine vertiefende Reise durch die Theorie von Defekten in Halbleitern und deckt sowohl fundamentale Konzepte als auch fortgeschrittene Modellierungs- und Berechnungsmethoden ab. Themen reichen von der Elektronendynamik in Präsenz von Punktdefekten bis hin zu komplexen Versetzungsstrukturen, deren Einfluss auf Ladungsträger Mobilität, Rekombination und optische Eigenschaften reicht. Durch sorgfältig aufbereitete Modelle, analytische Herleitungen und praxisnahe Beispiele ermöglicht das Werk ein Verständnis der Wechselwirkungen zwischen Defekten, Bandstrukturen und äußeren Störeinflüssen. Es verbindet klassische Theorien mit modernen Ansätzen aus Dichtefunktionaltheorie, many-body-Methoden und Simulationstechniken, um ein robustes Framework für Forschung und Anwendung zu liefern. Leser erhalten Einblicke in Defekt-Niveau-Struktur, Störerwirkungen bei Temperaturänderungen und die Rolle von Defekten bei relevanten Prozessen wie Dotierung, Rekombination und Relaxation, jeweils mit Blick auf aktuelle Probleme in der Halbleitertechnik.

Über die Autoren

Herausgeber sind Estreicher, Stefan und Drabold, David A. Als führende Köpfe der Defektforschung im Halbleiterbereich bündeln sie in diesem Werk konzentriertes Fachwissen und eine breite Perspektive. Die Zusammenarbeit der Herausgeber reflektiert eine Kombination aus theoretischer Fundierung, mathematischer Präzision und praktischer Relevanz, wodurch der Band sowohl für Studierende als auch für erfahrene Forscher eine verlässliche Orientierung bietet. Ihre kollektive Expertise unterstreicht die Bedeutung des Themas in der Entwicklung moderner Elektronik.

Kurz gefasst

Theory of Defects in Semiconductors bietet eine fundierte, umfassende Auseinandersetzung mit Defekten in Halbleitern, verknüpft theoretische Modelle mit praxisnahen Anwendungen und liefert eine unverzichtbare Referenz für Wissenschaft und Technik. Das Werk vereint historische Einordnung, aktuelle Forschungsfelder und zukunftsweisende Fragestellungen in einer klar strukturierten, akademisch anspruchsvollen Darstellung.

Detailangaben zum Buch - Theory of Defects in Semiconductors (Topics in Applied Physics, Band 104)


EAN (ISBN-13): 9783642070037
ISBN (ISBN-10): 3642070035
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Drabold, David A. Estreicher, Stefan, Springer
312 Seiten
Gewicht: 0,474 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2012-05-12T00:15:06+02:00 (Berlin)
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ISBN/EAN: 9783642070037

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-07003-5, 978-3-642-07003-7
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: estreicher, drabo, stefan david
Titel des Buches: semiconductors

Daten vom Verlag:

Autor/in: David A. Drabold
Titel: Topics in Applied Physics; Theory of Defects in Semiconductors
Verlag: Springer; Springer Berlin
295 Seiten
Erscheinungsjahr: 2010-11-22
Berlin; Heidelberg; DE
Gedruckt / Hergestellt in Niederlande.
Sprache: Englisch
219,99 € (DE)

BC; Hardcover, Softcover / Technik/Maschinenbau, Fertigungstechnik; Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien; Verstehen; Condensed matter theory; Defect theory; Energie; Potential; Semiconductors; condensed matter; defects; dynamics; history; modeling; quantum dot; science; semiconductor; spintronics; technology; Optical Materials; Condensed Matter Physics; Laser; Technology and Engineering; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Laserphysik; Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein; BB; EA

1. Defect Theroy: An Armchair History.- 2. Supercell Methods for Defect Calculations.- 3. Marker-Method Calculations for Electrical Levels Using Gaussian-orbital Basis-sets.- 4. Dynamical Matrices and Free Energies.- 5. The Calculation of Free Energies in Semiconductors: Defects, Transitions and Phase Diagrams.- 6. Quantum Monte Carlo Techniques and Defects in Semiconductors.- 7. Quasiparticle Calculations for Point Defects at Semiconductor Surfaces.- 8. Multiscale Modelling of Defects in Semiconductors: A Novel Molecular Dynamics Scheme.- 9. Empirical Molecular Dynamics: Possibilities, Requirements, and Limitations.- 10. Defects in Amorphous Semiconductors: Amorphous Silicon.- 11. Light-induced Effects in Amorphous and Glassy Solids.

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