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Scanning Electron Microscopy - Reimer, Ludwig / Hawkes, Peter W.
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Reimer, Ludwig / Hawkes, Peter W.:
Scanning Electron Microscopy - Taschenbuch

ISBN: 3642083722

ID: 22505969875

[EAN: 9783642083723], Neubuch, Publisher/Verlag: Springer, Berlin | Physics of Image Formation and Microanalysis | Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. | Electron Optics of a Scanning Electron Microscope.- Electron Scattering and Diffusion.- Emission of Backscattered and Secondary Electrons.- Electron Detectors and Spectrometers.- Image Contrast and Signal Processing.- Electron-Beam-Induced Current and Cathodoluminescence.- Special Techniques in SEM.- Crystal Structure Analysis by Diffraction.- Elemental Analysis and Imaging with X-Rays. | Format: Paperback | Language/Sprache: english | 806 gr | 235x155x28 mm | 529 pp, [PU: Springer, Berlin/Heidelberg/New York, NY]

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Scanning Electron Microscopy - Ludwig Reimer
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Ludwig Reimer:
Scanning Electron Microscopy - neues Buch

2010, ISBN: 9783642083723

ID: 815669683

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. Physics of Image Formation and Microanalysis Buch (fremdspr.) Taschenbuch 01.12.2010 Bücher>Fremdsprachige Bücher>Englische Bücher, Springer, .201

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ISBN: 9783642083723

ID: 751267599

BScanning Electron Microscopy /Bprovides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. Physics of Image Formation and Microanalysis Buch (fremdspr.) Bücher>Fremdsprachige Bücher>Englische Bücher, Springer

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ISBN: 9783642083723

ID: 836747680

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. Physics of Image Formation and Microanalysis Buch (fremdspr.) Bücher>Fremdsprachige Bücher>Englische Bücher, Springer

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Scanning Electron Microscopy - Taschenbuch

2010, ISBN: 9783642083723

ID: 15123957

Physics of Image Formation and Microanalysis, [ED: 2], 2., Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998, Softcover, Buch, [PU: Springer Berlin]

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Details zum Buch

Detailangaben zum Buch - Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences)


EAN (ISBN-13): 9783642083723
ISBN (ISBN-10): 3642083722
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer

Buch in der Datenbank seit 01.08.2011 18:50:49
Buch zuletzt gefunden am 27.10.2017 17:34:39
ISBN/EAN: 9783642083723

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-08372-2, 978-3-642-08372-3


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