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Acoustic Scanning Probe Microscopy - neues Buch

ISBN: 9783642274930

The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. The nondestructive characterization and nanoscale quantitative mappi… Mehr…

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Marinello, Francesco (Herausgeber); Savio, Enrico (Herausgeber); Passeri, Daniele (Herausgeber):
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2012

ISBN: 3642274935

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Acoustic Scanning Probe Microscopy - Erstausgabe

2012, ISBN: 9783642274930

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Acoustic Scanning Probe Microscopy
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783642274930


The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. The nondestructive characterization and nanoscale quantitative mapping of surface adhesion and stiffness or friction is possible. The aim of this book is to provide a comprehensive review of different scanning probe acoustic techniques, including AFAM, UAFM, SNFUH, UFM, SMM and torsional tapping modes. Basic theoretical explanations are given to understand not only the probe dynamics but also the dynamics of tip surface contacts. Calibration and enhancement are discussed to better define the performance of the techniques, which are also compared with other classical techniques such as nanoindentation or surface acoustic wave. Different application fields are described, including biological surfaces, polymers and thin films.

Detailangaben zum Buch - Acoustic Scanning Probe Microscopy


EAN (ISBN-13): 9783642274930
ISBN (ISBN-10): 3642274935
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 2012
Herausgeber: Springer Berlin
494 Seiten
Gewicht: 0,909 kg
Sprache: Englisch

Buch in der Datenbank seit 2009-09-18T14:01:32+02:00 (Berlin)
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ISBN/EAN: 9783642274930

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-642-27493-5, 978-3-642-27493-0
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: france, marin, savio mari, daniele, pass, passe, francesco savio, marine
Titel des Buches: microscopy, probe aufnahmen, francesco savio

Daten vom Verlag:

Autor/in: Francesco Marinello; Daniele Passeri; Enrico Savio
Titel: NanoScience and Technology; Acoustic Scanning Probe Microscopy
Verlag: Springer; Springer Berlin
494 Seiten
Erscheinungsjahr: 2012-10-04
Berlin; Heidelberg; DE
Gedruckt / Hergestellt in Niederlande.
Sprache: Englisch
106,99 € (DE)
109,99 € (AT)
118,00 CHF (CH)
POD
XXVI, 494 p.

BB; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Elektrizität, Magnetismus, Optik; Laserphysik; Verstehen; Elektrotechnik, Elektronik; AFAM calibration; AFM instrumental capabilities; Scanning Microdeformation Microscopy; acoustic microscopy techniques; acoustic properties of materials; biological nanoanalysis; cantilever dynamics; dynamics modelling; holography calibration; mechanical characterization; mechanical properties of materials; nanoanalysis; quantitative characterization; scanning probe microscopy; surface mapping; Laser; Microsystems and MEMS; Acoustics; Nanotechnology; Characterization and Analytical Technique; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Elektronik; Wellenmechanik (Vibration und Akustik); Nanotechnologie; Werkstoffprüfung; Materialwissenschaft; EA; BC

The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. The nondestructive characterization and nanoscale quantitative mapping of surface adhesion and stiffness or friction is possible. The aim of this book is to provide a comprehensive review of different scanning probe acoustic techniques, including AFAM, UAFM, SNFUH, UFM, SMM and torsional tapping modes. Basic theoretical explanations are given to understand not only the probe dynamics but also the dynamics of tip surface contacts. Calibration and enhancement are discussed to better define the performance of the techniques, which are also compared with other classical techniques such as nanoindentation or surface acoustic wave. Different application fields are described, including biological surfaces, polymers and thin films.
Presents the new analytical technique of acoustic scanning probe microscopy Delivers a comprehensive presentation of all related technical aspects Compares the advantages of this new technique with other established scanning probe techniques Includes supplementary material: sn.pub/extras

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