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Herausgegeben:Hingerl, Kurt; Losurdo, Maria:

Ellipsometry at the Nanoscale - Taschenbuch

2016, ISBN: 9783662519714

[ED: Softcover], [PU: Springer / Springer Berlin Heidelberg / Springer, Berlin], This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between t… Mehr…

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Losurdo, Maria Hingerl, Kurt:

Ellipsometry at the Nanoscale - Erstausgabe

2016, ISBN: 9783662519714

Taschenbuch

[ED: Kartoniert / Broschiert], [PU: Springer Berlin Heidelberg], Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides different aspect… Mehr…

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Ellipsometry at the Nanoscale - Erstausgabe

2016

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Maria Losurdo; Kurt Hingerl:
Ellipsometry at the Nanoscale - Erstausgabe

2016, ISBN: 9783662519714

Taschenbuch

Buch, Softcover, Softcover reprint of the original 1st ed. 2013, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2016

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Losurdo, Maria:
Ellipsometry at the Nanoscale - Taschenbuch

ISBN: 9783662519714

paperback

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Details zum Buch
Ellipsometry at the Nanoscale
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783662519714

Detailangaben zum Buch - Ellipsometry at the Nanoscale


EAN (ISBN-13): 9783662519714
ISBN (ISBN-10): 3662519712
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2016
Herausgeber: Springer Berlin

Buch in der Datenbank seit 2016-11-02T18:27:32+01:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-02-08T14:34:50+01:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9783662519714

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-662-51971-2, 978-3-662-51971-4
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: hingerl, losurdo

Daten vom Verlag:

Autor/in: Maria Losurdo; Kurt Hingerl
Titel: Ellipsometry at the Nanoscale
Verlag: Springer; Springer Berlin
730 Seiten
Erscheinungsjahr: 2016-08-23
Berlin; Heidelberg; DE
Gedruckt / Hergestellt in Niederlande.
Gewicht: 11,227 kg
Sprache: Englisch
320,99 € (DE)
329,99 € (AT)
354,00 CHF (CH)
POD
XXIV, 730 p.

BC; Nanotechnology and Microengineering; Hardcover, Softcover / Technik/Sonstiges; Elektronik; Verstehen; Correlation measurements; Kerr Spectroscopy; Plasmonics theory; Polarimetry; Polarized light; Measurement Science and Instrumentation; Characterization and Evaluation of Materials; Nanotechnology; Microsystems and MEMS; Measurement Science and Instrumentation; Characterization and Analytical Technique; Nanotechnology; Wissenschaftliche Standards, Normung usw. Werkstoffprüfung; Nanotechnologie; BB

This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving science and technology of nanomaterials and related processes by illustrating its exploitation, ranging from fundamental studies of the physics and chemistry of nanostructures to the ultimate goal of turnkey manufacturing control. This book is written for a broad readership: materials scientists, researchers, engineers, as well as students and nanotechnology operators who want to deepen their knowledge about both basics and applications of ellipsometry to nanoscale phenomena. It starts as a general introduction for people curious to enter the fields of ellipsometry and polarimetry applied to nanomaterials and progresses to articles by experts on specific fields that span from plasmonics, optics, to semiconductors and flexible electronics. The core belief reflected in this book is that ellipsometry applied at the nanoscale offers new ways of addressing many current needs. The book also explores forward-looking potential applications.

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