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Semiklassische Modellierung des Ladungstransports in Inversionsschichten für Sub-100 nm-SiGe-CMOS-Transistoren - Chi Dong Nguyen
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Chi Dong Nguyen:

Semiklassische Modellierung des Ladungstransports in Inversionsschichten für Sub-100 nm-SiGe-CMOS-Transistoren - neues Buch

ISBN: 383251306X

Broché, [EAN: 9783832513061], Logos Verlag Berlin, Logos Verlag Berlin, Book, [PU: Logos Verlag Berlin], Logos Verlag Berlin, Die immer höheren Dotierungen und immer stärkeren elektrische… Mehr…

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Nguyen, Chi Dong:

Semiklassische Modellierung Des Ladungstransports in Inversionsschichten Fur Sub-100 Nm-Sige-Cmos-Transistoren (German Edition) - Taschenbuch

ISBN: 9783832513061

paperback. Good. Access codes and supplements are not guaranteed with used items. May be an ex-library book., 2.5

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Dong, Chi:
Semiklassische Modellierung des Ladungstransports in Inversionsschichten für Sub-100 nm-SiGe-CMOS-Transistoren - gebrauchtes Buch

ISBN: 9783832513061

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Semiklassische Modellierung des Ladungstransports in Inversionsschichten für Sub-100 nm-SiGe-CMOS-Transistoren - gebrauchtes Buch

2006, ISBN: 9783832513061

Logos, 2006-08-31. Unknown Binding. Good., Logos, 2006-08-31, 2.5

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2006, ISBN: 9783832513061

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Details zum Buch

Detailangaben zum Buch - Semiklassische Modellierung des Ladungstransports in Inversionsschichten für Sub-100 nm-SiGe-CMOS-Transistoren


EAN (ISBN-13): 9783832513061
ISBN (ISBN-10): 383251306X
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2006
Herausgeber: Logos Verlag Berlin

Buch in der Datenbank seit 2008-12-09T20:45:54+01:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-07-18T11:51:27+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9783832513061

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-8325-1306-X, 978-3-8325-1306-1
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: chi
Titel des Buches: transistoren


Daten vom Verlag:

Autor/in: Chi Dong Nguyen
Titel: Semiklassische Modellierung des Ladungstransports in Inversionsschichten für Sub-100 nm-SiGe-CMOS-Transistoren
Verlag: Logos Berlin
Erscheinungsjahr: 2006-08-04
Sprache: Deutsch
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BC; PB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik, Nachrichtentechnik; Verspanntes Silizium; Quanteneffekte; Bauelementsimulation; Kanalbeweglichkeit; MOSFETs


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