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Development, Validation, and Application of Semi-Analytical Interconnect Models for Efficient Simulation of Multilayer Substrates - Renato Rimolo-Donadio
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Renato Rimolo-Donadio:
Development, Validation, and Application of Semi-Analytical Interconnect Models for Efficient Simulation of Multilayer Substrates - gebrauchtes Buch

2011, ISBN: 3832527761

ID: 4667630746

[EAN: 9783832527761], [PU: Logos Verlag Berlin 2011-01-28], SIGNALINTEGRITÄT SPANNUNGSVERSORGUNG ELEKTROMAGNETISCHE VERTRÄGLICHKEIT LEITERPLATTE DURCHKONTAKTIERUNG (VIA), Diese Dissertation befasst sich mit der Entwicklung von semianalytischen Modellen für das elektrische Verhalten von Durchkontaktierungen und Leitungen in Chip-Modulen und Leiterplatten. Ein Verfahren für die automatisierte Simulation von mehrlagigen Strukturen wird ebenso dargestellt. Die Modelle werden gründlich anhand von mehreren Teststrukturen und Anwendungsstudien validiert und ausgewertet. Es wird gezeigt, dass die Modelle gute Ergebnisse bis 40 GHz liefern und eine numerische Effizienz bieten, die mindestens zwei Größenordnungen höher ist im Vergleich zu allgemeinen numerischen Verfahren.

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Logos Verlag Berlin GmbH, Berlin, ., Germany [52924201] [Rating: 4 (von 5)]
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Development, Validation, and Application of Semi-Analytical Interconnect Models for Efficient Simulation of Multilayer Substrates - Renato Rimolo-Donadio
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Renato Rimolo-Donadio:
Development, Validation, and Application of Semi-Analytical Interconnect Models for Efficient Simulation of Multilayer Substrates - Taschenbuch

2011, ISBN: 9783832527761

ID: 18343873

Softcover, Buch, [PU: Logos Berlin]

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