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Experimentelle und theoretische Untersuchungen der Degradation von ultradünnen MOS-Gatedielektrika - Kristian Hafkemeyer
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Kristian Hafkemeyer:
Experimentelle und theoretische Untersuchungen der Degradation von ultradünnen MOS-Gatedielektrika - Taschenbuch

ISBN: 3832527915

Paperback, [EAN: 9783832527914], Logos Verlag Berlin, Logos Verlag Berlin, Book, [PU: Logos Verlag Berlin], Logos Verlag Berlin, Diese Arbeit beschreibt experimentelle und atomistische Simulationen zur Zuverlässigkeitsanalyse von integrierten MOS-Transistoren in einer 130nm CMOS-Technologie. Eine Teststruktur mit mehr als 1.024 Einzelelementen zur automatischen Erhebung einer großen Statistik bezüglich der Analogeigenschaften der Transistoren wurde hergestellt. Zusätzlich zu den elektrischen Analysen des Transistors wurden atomistische Modelle des Dielektrikums aufgebaut, um mittels quantenchemischen Simulationen die Degradation näher zu untersuchen und die Simulationsdaten mit dem Experiment zu vergleichen., 1025612, Subjects, 349777011, Antiquarian, Rare & Collectable, 91, Art, Architecture & Photography, 67, Biography, 68, Business, Finance & Law, 507848, Calendars, Diaries, Annuals & More, 69, Children's Books, 274081, Comics & Graphic Novels, 71, Computing & Internet, 72, Crime, Thrillers & Mystery, 62, Fiction, 66, Food & Drink, 275835, Gay & Lesbian, 74, Health, Family & Lifestyle, 65, History, 64, Home & Garden, 63, Horror, 89, Humour, 275738, Languages, 61, Mind, Body & Spirit, 73, Music, Stage & Screen, 275389, Poetry, Drama & Criticism, 59, Reference, 58, Religion & Spirituality, 88, Romance, 5106747031, School Books, 57, Science & Nature, 4034595031, Science Fiction & Fantasy, 564334, Scientific, Technical & Medical, 60, Society, Politics & Philosophy, 55, Sports, Hobbies & Games, 83, Travel & Holiday, 52, Young Adult, 266239, Books

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ISBN: 3832527915

Paperback, [EAN: 9783832527914], Logos Berlin, Logos Berlin, Book, [PU: Logos Berlin], Logos Berlin, Diese Arbeit beschreibt experimentelle und atomistische Simulationen zur Zuverlässigkeitsanalyse von integrierten MOS-Transistoren in einer 130nm CMOS-Technologie. Eine Teststruktur mit mehr als 1.024 Einzelelementen zur automatischen Erhebung einer großen Statistik bezüglich der Analogeigenschaften der Transistoren wurde hergestellt. Zusätzlich zu den elektrischen Analysen des Transistors wurden atomistische Modelle des Dielektrikums aufgebaut, um mittels quantenchemischen Simulationen die Degradation näher zu untersuchen und die Simulationsdaten mit dem Experiment zu vergleichen., 1000, Subjects, 1, Arts & Photography, 2, Biographies & Memoirs, 3, Business & Money, 3248857011, Calendars, 4, Children's Books, 12290, Christian Books & Bibles, 4366, Comics & Graphic Novels, 5, Computers & Technology, 6, Cookbooks, Food & Wine, 48, Crafts, Hobbies & Home, 8975347011, Education & Teaching, 173507, Engineering & Transportation, 301889, Gay & Lesbian, 10, Health, Fitness & Dieting, 9, History, 86, Humor & Entertainment, 10777, Law, 17, Literature & Fiction, 173514, Medical Books, 18, Mystery, Thriller & Suspense, 20, Parenting & Relationships, 3377866011, Politics & Social Sciences, 21, Reference, 22, Religion & Spirituality, 23, Romance, 75, Science & Math, 25, Science Fiction & Fantasy, 4736, Self-Help, 26, Sports & Outdoors, 28, Teen & Young Adult, 27, Travel, 283155, Books

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ISBN: 3832527915

Taschenbuch, [EAN: 9783832527914], Logos Berlin, Logos Berlin, Book, [PU: Logos Berlin], Logos Berlin, 290520, Ingenieurwissenschaften, 292377, Bauwesen, 290873, Chemie, 560290, Druckluft- & Vakuumstechnik, 290888, Elektrotechnik, 290917, Erdöl, Bergbau & Geologie, 290881, Informatik & Computertechnik, 290868, Ingenieurbiologie, 527600, Ingenieurmathematik, 292493, Kraftfahrzeugtechnik, 560478, Kraftwerkstechnik, 560074, Kunststofftechnik, 292460, Luft- & Raumfahrttechnik, 292480, Maschinenbau, 292468, Materialwissenschaften, 560532, Mechatronik, 560534, Messen, Steuern & Regeln, 560614, Metalltechnik, 560642, Mikrosystemtechnik, 292502, Nachrichtentechnik & Telekommunikation, 560644, Nanotechnologie, 560646, Physikalische Grundlagen, 292357, Produktionsmanagement, 655550, Wirtschaftsingenieurwesen, 288100, Fachbücher, 541686, Kategorien, 186606, Bücher

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Experimentelle und theoretische Untersuchungen der Degradation von ultradünnen MOS-Gatedielektrika - Taschenbuch

2011, ISBN: 9783832527914

ID: 18465680

Softcover, Buch, [PU: Logos Berlin]

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