Über das Werk
4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors (ISBN: 9783838380643) bietet eine detaillierte Untersuchung fortschrittlicher Halbleiterbauelemente aus dem Materialsystem Siliziumcarbid (SiC) und widmet sich insbesondere Schottky Barrier Diodes sowie Junction Field Effect Transistors (JFETs) im 4H-SiC-Gefüge. Das Werk beleuchtet historische Entwicklungen, technologische Meilensteine und praxisrelevante Anwendungen dieser Bauteile in Hochleistungs- und Hochtemperaturbereichen. Als Referenzwerk für Forscher, Ingenieure und Studierende der Elektronik eröffnet es Einblicke in Materialeigenschaften, Herstellungsprozesse, Nukleierung von Fehlstellen sowie elektrische Charakterisierung, wodurch es die Entstehung moderner Leistungselektronik nachvollziehbar macht.
Zusammenfassung
Der Band bietet eine gründliche, systematische Auseinandersetzung mit den physikalischen Grundlagen, dem Aufbau und der Funktionsweise von 4H-SiC-basierten Schottky-Dioden und JFETs. Leser finden eine umfassende Analyse der Tragwiderstände, Wärmeableitung, Grenzwerte bei Temperatur und Spannung sowie der Optimierung von Grenzflächenkontakten. Ergänzend werden Herstellungsverfahren, Prozesstoleranzen, Charakterisierungsmethoden und Zuverlässigkeitsaspekte behandelt. Durch praxisnahe Fallbeispiele und Abbildungen werden Designentscheidungen, Schaltungsarchitekturen und Anwendungsbereiche in der Leistungselektronik nachvollziehbar illustriert.
Über den Autor
Denis Perrone präsentiert in diesem Werk eine klare, faktenbasierte Darstellung komplexer Halbleitertechnologien rund um 4H-SiC. Mit Fokus auf Transparenz und Anwendbarkeit vereint er theoretische Tiefe mit praktischer Relevanz und richtet sich an Studierende, Forschende und Entwickler, die sich mit Hochleistungshalbleitern beschäftigen.
Kurz gefasst
4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors bietet eine fundierte, gut strukturierte Einführung in und Vertiefung von Schottky-Dioden und JFETs aus 4H-SiC, verbindet Theorie mit Praxis und richtet sich an Fachleute, die die Leistungsgrenzen moderner SiC-Halbleiter verstehen und anwenden wollen.
2026, ISBN: 9783838380643
[ED: Taschenbuch], [PU: LAP LAMBERT Academic Publishing], Neuware - Silicon Carbide (SiC) is a semiconductor employed for the fabrication of high power and high frequency electronic devic… Mehr…
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4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors | Process and characterization techniques | Denis Perrone | Taschenbuch | Paperback | 116 S. | Englisch | 2010 | EAN 9783838380643 - Taschenbuch
2010, ISBN: 9783838380643
gewerbliches Angebot, [SC: 0.00], Neuware, [PU: LAP LAMBERT Academic Publishing], 116, [GW: 191g], [ED: Taschenbuch], DE, Silicon Carbide (SiC) is a semiconductor employed for the fabrica… Mehr…
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ISBN: 9783838380643
Silicon Carbide (SiC) is a semiconductor employed for the fabrication of high - power and high - frequency electronic devices, with lower power losses and smaller size than their Si or Ga… Mehr…
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4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors: Process and characterization techniques - Taschenbuch
2010, ISBN: 9783838380643
LAP LAMBERT Academic Publishing, Taschenbuch, 116 Seiten, Publiziert: 2010-07-26T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.18 kg, Elektronik, Elektrotechnik, Ingenieurwissenschaft & Technik, Natu… Mehr…
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ISBN: 9783838380643
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2026, ISBN: 9783838380643
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Perrone, Denis:
4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors | Process and characterization techniques | Denis Perrone | Taschenbuch | Paperback | 116 S. | Englisch | 2010 | EAN 9783838380643 - Taschenbuch2010, ISBN: 9783838380643
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4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors: Process and characterization techniques - Taschenbuch
2010, ISBN: 9783838380643
LAP LAMBERT Academic Publishing, Taschenbuch, 116 Seiten, Publiziert: 2010-07-26T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.18 kg, Elektronik, Elektrotechnik, Ingenieurwissenschaft & Technik, Natu… Mehr…

ISBN: 9783838380643
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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches
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Über das Werk
4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors (ISBN: 9783838380643) bietet eine detaillierte Untersuchung fortschrittlicher Halbleiterbauelemente aus dem Materialsystem Siliziumcarbid (SiC) und widmet sich insbesondere Schottky Barrier Diodes sowie Junction Field Effect Transistors (JFETs) im 4H-SiC-Gefüge. Das Werk beleuchtet historische Entwicklungen, technologische Meilensteine und praxisrelevante Anwendungen dieser Bauteile in Hochleistungs- und Hochtemperaturbereichen. Als Referenzwerk für Forscher, Ingenieure und Studierende der Elektronik eröffnet es Einblicke in Materialeigenschaften, Herstellungsprozesse, Nukleierung von Fehlstellen sowie elektrische Charakterisierung, wodurch es die Entstehung moderner Leistungselektronik nachvollziehbar macht.
Zusammenfassung
Der Band bietet eine gründliche, systematische Auseinandersetzung mit den physikalischen Grundlagen, dem Aufbau und der Funktionsweise von 4H-SiC-basierten Schottky-Dioden und JFETs. Leser finden eine umfassende Analyse der Tragwiderstände, Wärmeableitung, Grenzwerte bei Temperatur und Spannung sowie der Optimierung von Grenzflächenkontakten. Ergänzend werden Herstellungsverfahren, Prozesstoleranzen, Charakterisierungsmethoden und Zuverlässigkeitsaspekte behandelt. Durch praxisnahe Fallbeispiele und Abbildungen werden Designentscheidungen, Schaltungsarchitekturen und Anwendungsbereiche in der Leistungselektronik nachvollziehbar illustriert.
Über den Autor
Denis Perrone präsentiert in diesem Werk eine klare, faktenbasierte Darstellung komplexer Halbleitertechnologien rund um 4H-SiC. Mit Fokus auf Transparenz und Anwendbarkeit vereint er theoretische Tiefe mit praktischer Relevanz und richtet sich an Studierende, Forschende und Entwickler, die sich mit Hochleistungshalbleitern beschäftigen.
Kurz gefasst
4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors bietet eine fundierte, gut strukturierte Einführung in und Vertiefung von Schottky-Dioden und JFETs aus 4H-SiC, verbindet Theorie mit Praxis und richtet sich an Fachleute, die die Leistungsgrenzen moderner SiC-Halbleiter verstehen und anwenden wollen.
Detailangaben zum Buch - 4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors
EAN (ISBN-13): 9783838380643
ISBN (ISBN-10): 3838380649
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: LAP LAMBERT Academic Publishing
116 Seiten
Gewicht: 0,189 kg
Sprache: eng/Englisch
Buch in der Datenbank seit 2008-07-30T12:01:24+02:00 (Berlin)
Buch zuletzt gefunden am 2026-03-23T16:31:06+01:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9783838380643
ISBN - alternative Schreibweisen:
3-8383-8064-9, 978-3-8383-8064-3
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: perrone, denis den, dénis, schottky
Titel des Buches: sic diodes, sic non, transistors
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