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Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip (Advanced Texts in Physics) - Meyer, Ernst, Hug, Hans Josef, Bennewitz, Roland
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Meyer, Ernst, Hug, Hans Josef, Bennewitz, Roland:

Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip (Advanced Texts in Physics) - gebunden oder broschiert

2003, ISBN: 9783540431800

Springer, Gebundene Ausgabe, Auflage: 2004, 220 Seiten, Publiziert: 2003-08-27T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: 189 black & white illustrations, 15 colo, 0.55 kg, Verkaufsr… Mehr…

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2003

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Springer, Gebundene Ausgabe, Auflage: 2004, 220 Seiten, Publiziert: 2003-08-27T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: 189 black & white illustrations, 15 colo, 0.55 kg, Verkaufsr… Mehr…

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Meyer, Ernst; Bennewitz, Roland; Hug, Hans Josef:
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2003, ISBN: 3540431802

2004 Gebundene Ausgabe Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie, Wissenschaftliche Standards, Normung usw., Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie, Nanotechnologie, … Mehr…

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Meyer, Ernst, Hans Josef Hug and Roland Bennewitz:
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2004, ISBN: 3540431802

gebundene Ausgabe 210 Seiten Gebundene Ausgabe Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber. Es befindet sich neben dem Rückenschild l… Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip (Advanced Texts in Physics)
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

3540431802


Written by three leading experts in the field, this textbook describes and explains all aspects of the scanning probe microscopy. Emphasis is placed on the experimental design and procedures required to optimize the performance of the various methods. Scanning Probe Microscopy covers not only the physical principles behind scanning probe microscopy but also questions of instrumental designs, basic features of the different imaging modes, and recurring artifacts. The intention is to provide a general textbook for all types of classes that address scanning probe microscopy. Third year undergraduates and beyond should be able to use it for self-study or as textbook to accompany a course on probe microscopy. Furthermore, it will be valuable as reference book in any scanning probe microscopy laboratory. Novel applications and the latest important results are also presented, and the book closes with a look at the future prospects of scanning probe microscopy, also discussing related techniques in nanoscience. Ideally suited as an introduction for graduate students, the book will also serve as a valuable reference for practising researchers developing and using scanning probe techniques.

Detailangaben zum Buch - Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip (Advanced Texts in Physics)


EAN (ISBN-13): 9783540431800
ISBN (ISBN-10): 3540431802
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2003
Herausgeber: Springer
210 Seiten
Gewicht: 0,493 kg
Sprache: ger/Deutsch

Buch in der Datenbank seit 2007-05-15T11:53:25+02:00 (Berlin)
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ISBN/EAN: 3540431802

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-43180-2, 978-3-540-43180-0
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: meyer han, meyer ernst, ernst hug, josef ernst, hans hug, bennewitz, roland benn, johann jacob meyer, hans joerg meyer, edition hansjoerg meyer, ben meyer, hello ernst, clo meyer, ernst ber, jos mey
Titel des Buches: scanning probe microscopy, advanced physics, lab, josef, ernst meyer, bennewitz, tip, probe aufnahmen, springer texts physics

Daten vom Verlag:

Autor/in: Ernst Meyer
Titel: Advanced Texts in Physics; Scanning Probe Microscopy - The Lab on a Tip
Verlag: Springer; Springer Berlin
210 Seiten
Erscheinungsjahr: 2003-08-27
Berlin; Heidelberg; DE
Sprache: Englisch
76,99 € (DE)

BB; Hardcover, Softcover / Chemie/Physikalische Chemie; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Verstehen; Experiment; Helium-Atom-Streuung; Nanoscience; PES; Scanning probe microscopy; Surface science; microscopy; Spectroscopy; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Measurement Science and Instrumentation; Condensed Matter Physics; Nanotechnology; Materialwissenschaft; Wissenschaftliche Standards, Normung usw. Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Nanotechnologie; BC

1 Introduction to Scanning Probe Microscopy.- 2 Introduction to Scanning Tunneling Microscopy.- 3 Force Microscopy.- 4 MFM and Related Techniques.- 5 Other Members of the SPM Family.- 6 Artifacts in SPM.- 7 Prospects for SPM.- References.
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