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CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet : Degradation Behavior and Damage Mechanisms - Hans-Georg Stark
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ISBN: 9783540274124

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CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet : Degradation Behavior and Damage Mechanisms - Rudolf Grunig
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CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet - Arokia Nathan/ Flora Li
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CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet ab 181.99 € als pdf eBook: Degradation Behavior and Damage Mechanisms. Aus dem Bereich: eBooks, Sachthemen & Ratgeber, Technik, Medien > Bücher, CCD … Mehr…

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CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet - Flora Li; Arokia Nathan
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Flora Li; Arokia Nathan:
CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet - neues Buch

2006, ISBN: 9783540274124

Degradation Behavior and Damage Mechanisms, eBooks, eBook Download (PDF), 2005, [PU: Springer Berlin], Springer Berlin, 2006

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch

Detailangaben zum Buch - CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet


EAN (ISBN-13): 9783540274124
ISBN (ISBN-10): 354027412X
Erscheinungsjahr: 2006
Herausgeber: Springer Berlin
231 Seiten
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2009-03-03T04:26:09+01:00 (Berlin)
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ISBN/EAN: 354027412X

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-27412-X, 978-3-540-27412-4
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: hans stark
Titel des Buches: not his image, into the deep, degradation, ultraviolet


Daten vom Verlag:

Autor/in: Flora Li; Arokia Nathan
Titel: Microtechnology and MEMS; CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet - Degradation Behavior and Damage Mechanisms
Verlag: Springer; Springer Berlin
232 Seiten
Erscheinungsjahr: 2006-01-05
Berlin; Heidelberg; DE
Sprache: Englisch
149,79 € (DE)
154,00 € (AT)
177,00 CHF (CH)
Available
XII, 232 p. 84 illus.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Technik/Maschinenbau, Fertigungstechnik; Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien; Verstehen; CCD image sensor; Deep-UV damage mechanisms; Eximer laser; Photodiode; Sensor; UV photodiodes; design; imaging; integrated circuit; laser; optimization; semiconductor; technology; C; Optical Materials; Laser; Technology and Engineering; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Chemistry and Materials Science; Laserphysik; Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein; Elektronik; BB

Overview of CCD.- CCD Imaging in the Ultraviolet (UV) Regime.- Silicon.- Silicon Dioxide.- Si-SiO2 Interface.- General Effects of Radiation.- Effects of Radiation on CCDs.- UV-Induced Effects in Si.- UV Laser Induced Effects in SiO2.- UV Laser Induced Effects at the Si-SiO2 Interface.- CCD Measurements at 157nm.- Design Optimizations for Future Research.- Concluding Remarks.
The first book to integrate CCD image sensor characteristics, their intrinsic instabilities, and the effect of UV radiation on device characteristics

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