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Scanning Electron Microscopy - P.W. Hawkes; Ludwig Reimer
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P.W. Hawkes; Ludwig Reimer:

Scanning Electron Microscopy - neues Buch

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Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using seco… Mehr…

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Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis - neues Buch

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; PDF; Scientific, Technical and Medical > Science: general issues > Scientific equipment, experiments & te, Springer Berlin Heidelberg

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Scanning Electron Microscopy - neues Buch

2013, ISBN: 9783540389675

Physics of Image Formation and Microanalysis, eBook Download (PDF), eBooks, [PU: Springer Berlin Heidelberg]

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Scanning Electron Microscopy
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783540389675

Detailangaben zum Buch - Scanning Electron Microscopy


EAN (ISBN-13): 9783540389675
Erscheinungsjahr: 2013
Herausgeber: Springer Berlin Heidelberg

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ISBN/EAN: 9783540389675

ISBN - alternative Schreibweisen:
978-3-540-38967-5
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: hawkes, ivar ekeland, ludwig reimer
Titel des Buches: scanning electron microscopy

Daten vom Verlag:

Autor/in: Ludwig Reimer
Titel: Springer Series in Optical Sciences; Scanning Electron Microscopy - Physics of Image Formation and Microanalysis
Verlag: Springer; Springer Berlin
529 Seiten
Erscheinungsjahr: 2013-11-11
Berlin; Heidelberg; DE
Gedruckt / Hergestellt in Deutschland.
Sprache: Englisch
287,83 € (DE)
295,90 € (AT)
330,50 CHF (CH)
Available
XIV, 529 p.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Physik, Astronomie/Mechanik, Akustik; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Verstehen; Rasterelektronen Mikroskopie; Scanning Tunneling Microscopy; crystal; diffraction; electron microscope; electron microscopy; electron optics; microscopy; optics; scanning electron microscope; B; Spectroscopy and Microscopy; Solid State Physics; Surface and Interface Science, Thin Films; Physics, general; Spectroscopy; Condensed Matter Physics; Surface and Interface and Thin Film; Physics and Astronomy; Physics and Astronomy; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Mathematik und Naturwissenschaften; BB

Electron Optics of a Scanning Electron Microscope.- Electron Scattering and Diffusion.- Emission of Backscattered and Secondary Electrons.- Electron Detectors and Spectrometers.- Image Contrast and Signal Processing.- Electron-Beam-Induced Current and Cathodoluminescence.- Special Techniques in SEM.- Crystal Structure Analysis by Diffraction.- Elemental Analysis and Imaging with X-Rays.
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