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Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits. Adoración Rueda Rueda, Jose Luis Huertas Díaz, Diego Vázquez García de la Vega, Gloria Huertas... - Adoración Rueda Rueda, Jose Luis Huertas Díaz, Diego Vázquez García de la Vega, Gloria Huertas Sánchez,
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Adoración Rueda Rueda, Jose Luis Huertas Díaz, Diego Vázquez García de la Vega, Gloria Huertas Sánchez,:

Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits. Adoración Rueda Rueda, Jose Luis Huertas Díaz, Diego Vázquez García de la Vega, Gloria Huertas... - neues Buch

ISBN: 9781402053146

Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits. This book presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test - OBT in shor… Mehr…

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Jose Luis Huertas Díaz/ Diego Vázquez García de la Vega/ Adoración Rueda Rueda/ Gloria Huertas Sánchez:

Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits - Taschenbuch

2006, ISBN: 9781402053146

*Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits* - Auflage 2006 / gebundene Ausgabe für 160.49 € / Aus dem Bereich: Bücher, Wissenschaft, Technik Medien > Bücher nein Buch (gebunden) Har… Mehr…

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Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits - Taschenbuch

2006

ISBN: 9781402053146

Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits ab 192.49 € als gebundene Ausgabe: Auflage 2006. Aus dem Bereich: Bücher, Wissenschaft, Technik, Medien > Bücher nein Buch (gebunden) Hardc… Mehr…

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2006, ISBN: 1402053142

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Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits - gebunden oder broschiert

2006, ISBN: 9781402053146

2006 ed., Hardcover, Buch, [PU: Springer-Verlag New York Inc.]

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits

This book presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test - OBT in short. The results presented here assert, not only from a theoretical point of view, but also based on a wide experimental support, that OBT is an efficient defect-oriented test solution, complementing the existing functional test techniques for mixed-signal circuits.

Detailangaben zum Buch - Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits


EAN (ISBN-13): 9781402053146
ISBN (ISBN-10): 1402053142
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2006
Herausgeber: Springer Netherlands
452 Seiten
Gewicht: 0,859 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2007-04-12T22:00:41+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-02-23T04:07:49+01:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 9781402053146

ISBN - alternative Schreibweisen:
1-4020-5314-2, 978-1-4020-5314-6
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: diaz sanchez, vazquez, vega luis, jose sanchez, vega diego, diaz josé luis, rueda garcia, huerta, gloria, glória garcia, josé garcía
Titel des Buches: signal band, electronic circuits, oscillation based test mixed signal circuits


Daten vom Verlag:

Autor/in: Gloria Huertas Sánchez; Diego Vázquez García de la Vega; Adoración Rueda Rueda; Jose Luis Huertas Díaz
Titel: Frontiers in Electronic Testing; Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Verlag: Springer; Springer Netherland
452 Seiten
Erscheinungsjahr: 2006-11-06
Dordrecht; NL
Gedruckt / Hergestellt in Niederlande.
Sprache: Englisch
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
POD
XVI, 452 p.

BB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Bandpass; FRET; Frontiers Electronic Test; Mixed-Signal Circuits; Oscillation-Based; Signal; development; modeling; simulation; testing; Electronic Circuits and Systems; Electrical and Electronic Engineering; Engineering Design; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Elektrotechnik; Konstruktion, Entwurf; Elektronik; EA; BC

Oscillation-Based Test Methodology.- Mathematical Review of Non-linear Oscillators.- OBT Methodology for Discrete-Time Filters.- OBT Methodology for discrete-time ?? Modulators.- OBT Implementation in Discrete-Time Filters.- Practical regards for OBT-OBIST implementation.- OBT-OBIST silicon validation.

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