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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85, Band 85) - Rein, Stefan
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85, Band 85) - gebunden oder broschiert

2005, ISBN: 9783540253037

Springer, Gebundene Ausgabe, Auflage: 2005, 518 Seiten, Publiziert: 2005-06-23T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: 29 black & white tables, biography, 1.03 kg, Chemie, Naturwi… Mehr…

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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - gebunden oder broschiert

2005, ISBN: 9783540253037

Hard cover, Fine., Sewn binding. Cloth over boards. 492 p. Contains: Tables, black & white. Springer Materials Science, 85. In Stock. 100% Money Back Guarantee. Brand New, Perfect Conditi… Mehr…

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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - gebunden oder broschiert

2005

ISBN: 9783540253037

Hard cover, New., Sewn binding. Cloth over boards. 492 p. Contains: Tables, black & white. Springer Materials Science, 85., Berlin, Heidelberg, [PU: Springer]

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lifetime_spectroscopy-a_method_of_defect_characterization_in_silicon_for - Taschenbuch

2005, ISBN: 9783540253037

FisicalBook, Paperback, Publiziert: 2005T, Produktgruppe: Book, 0.84 kg, Subjects, Books, FisicalBook, 2005

AR - ArgentinienVersandkosten:Usually dispatched within 2 to 3 days. Real shipping costs can differ from the ones shown here. (EUR 3.20) DZK BOOKS EU
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Lifetime Spectroscopy - Stefan Rein
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Lifetime Spectroscopy - gebrauchtes Buch

ISBN: 9783540253037

Livre, [PU: Springer, Berlin/Heidelberg]

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
lifetime_spectroscopy-a_method_of_defect_characterization_in_silicon_for
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783540253037


Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.

Detailangaben zum Buch - lifetime_spectroscopy-a_method_of_defect_characterization_in_silicon_for


EAN (ISBN-13): 9783540253037
ISBN (ISBN-10): 3540253033
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2005
Herausgeber: FisicalBook
489 Seiten
Gewicht: 1,000 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2007-06-12T10:45:44+02:00 (Berlin)
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ISBN/EAN: 9783540253037

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-25303-3, 978-3-540-25303-7
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: stefan rein
Titel des Buches: silicon, characterization, applications spectroscopy, springer series, defect, once lifetime, almost lifetime, application materials

Daten vom Verlag:

Autor/in: Stefan Rein
Titel: Springer Series in Materials Science; Lifetime Spectroscopy - A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Verlag: Springer; Springer Berlin
492 Seiten
Erscheinungsjahr: 2005-06-23
Berlin; Heidelberg; DE
Sprache: Englisch
329,99 € (DE)

BB; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Verstehen; Ingenieurwissenschaften; Defects in Silicon; Experiment; Lifetime spectroscopy; Semiconductor; Shockly-Read-Hall recombination; metal; modeling; semiconductors; solar cell; spectroscopy; Condensed Matter Physics; Spectroscopy; Optical Materials; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien; BC

Theory of carrier lifetime in silicon.- Lifetime measurement techniques.- Theory of lifetime spectroscopy.- Defect characterization on intentionally metal-contaminated silicon samples.- The metastable defect in boron-doped Czochralski silicon.- Summary and further work.- Zusammenfassung und Ausblick.

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